溫度沖擊試驗箱用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用于科研、學校、工廠等單位用于電工、電子產品、液晶顯示屏、半導體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應性試驗。
1、溫度沖擊試驗箱試驗目的：確定測試產品在周圍大氣溫度急劇變化時的適應性及被破壞性。
2、試驗條件：高溫箱：RT～150℃，低溫箱：RT～-40℃，試驗溫度保持時間：1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長者為準,循環(huán)次數(shù)：針對各個不同行業(yè)不同廠家所對應的試驗要求不一樣，按照標準上的試驗方法測試。
3、恢復：測試產品從冷熱沖擊箱內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。
4、對溫度沖擊試驗箱的要求：
a.采用高溫箱和低溫箱進行冷熱沖擊試驗,以提供試驗樣品經受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。
b.高溫區(qū)的要求,應符合GJB150.3-86《設備環(huán)境試驗方法高溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
c.低溫區(qū)的要求，應符合GJB150.4-86《設備環(huán)境試驗方法低溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
d.溫度沖擊試驗箱提供高溫試驗部分和低溫試驗部分,應分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
e.試驗箱的容積應保證在試驗樣品放入候補超過試驗溫度保持時間的10%就能使試驗箱(室)溫度達到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗條件容差范圍之內。
5、參照滿足標準：
    GB10592-89高低溫箱技術條件；
GB10586-93濕熱試驗箱技術條件；
《GB2423.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：低溫試驗方法；
《GB2423.2-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：高溫試驗方法；
《GB/T2423.4-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：交變濕熱試驗方法；
《GB/T2423.3-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》：恒定濕熱試驗方法。
6、控制系統(tǒng):
低溫區(qū)、高溫區(qū)轉換時間≤10s。

溫度恢復時間≤5min。

                                                                                                                                                                  （文章來源于網絡）